|
Конференция будет посвящена вопросам развития и применения
методов электронной
и зондовой микроскопии в физике твердого тела,
материаловедении, нанотехнологии, химии,
биологии, медицине и
индустрии.
Программа Конференции будет включать пленарные, секционные и
стендовые доклады.
|
|
Научная
программа конференции предусматривает следующие направления: |
Просвечивающая
электронная микроскопия
(аналитическая, низковольтная, растровая).-
секция I. |
Электронная
микроскопия в исследовании новых материалов,
включая наноструктуры.- секция
II. |
|
Методы электронной
дифракции и электронная кристаллография.-
секция III. |
|
Электронная оптика и
новые приборы.- секция
IV. |
|
Сканирующая зондовая
микроскопия.- секция
V. |
|
Сканирующая
электронная микроскопия.- секция
VI. |
Использование
сфокусированных электронных и
ионных пучков для анализа материалов.- секция
VII.
|
|
Электронная и ионная
литография.- секция VIII. |
|
Применение
электронной и зондовой микроскопии в химии и геологии.-
секция IX. |
Применение
электронной, зондовой и конфокальной
сканирующей микроскопии в
биологии и медицине.- секция X.
|
Институт
Проблем Технологии Микроэлектроники и Особочистых Материалов РАН