главная .  новости .  программа .  регистрация .  оргвзнос .  оргкомитет .  участники .  тезисы .  организаторы .  архивы .  черноголовка .  гостиница .  спонсоры

English

 
 

научная программа

  Симпозиум будет посвящен вопросам развития и применения методов сканирующей микроскопии (электронной и зондовой) и аналитических методов исследования в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине.
Программа Симпозиума будет включать пленарные, секционные и стендовые доклады.
   

Научная программа Симпозиума предусматривает следующие направления:     
      Приборы и электронная оптика.
      Сканирующая зондовая микроскопия.
      Наноструктуры и нанотехнологии.
      Локальный анализ состава в РЭМ.
      Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, 
      материаловедении, микроэлектронике, нанотехнологии, химии и геологии.
      Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной 
     сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии.
Секции:  


В Симпозиуме примут участие студенты и аспиранты базовых кафедр
    МФТИ, МИСИС  МГТУ им. Баумана.

 

  Для справок: 
  Tel:  (499) 135 02 98
  Fax: (499) 135  10 11
  E-mail: alla@ns.crys.ras.ru 
             giza@iptm.ru 
   
     

Институт Проблем Технологии Микроэлектроники и Особочистых Материалов РАН - 2010
Last updated: 01.09.10